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    • 磁粉探傷靈敏度試片
      磁粉探傷靈敏度試片

      磁粉探傷靈敏度試片A1\\C\\D\\M1 產(chǎn)品型號:磁粉探傷靈敏度試片A1 產(chǎn)品簡(jiǎn)介:A型靈敏度試片最先由日本無(wú)損檢測學(xué)會(huì )提出,以后為多個(gè)國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質(zhì)的工作,可以正確地選擇磁化規范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過(guò)程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量A型靈敏度試片是磁

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